Die Modulflüsterer
Fachmagazin "Sonnenergie" befasst sich in seiner aktuellen Ausgabe mit der von HI ERN-Forschenden entwickelten neuen Methode, PV-Rückseitenfolien zerstörungsfrei im Feld bestimmen zu lassen.
Ihr Poster mit dem Titel „Risse? – Risse! – Risse in PV“ beschreibt die Diskrepanz zwischen Wahrnehmung und Relevanz verschiedener Risstypen in Photovolatik (PV)-Modulen wie Zellrisse, Risse in Rückseitenfolien und in Leiterbändchen.
Risse in PV-Anlagen kommen nicht selten vor, bleiben oft aber unentdeckt. Sie können den Ertrag ganzer PV-Anlagen minimieren und stellen darüber hinaus ein Sicherheitsrisiko dar: Risse können zu Isolationsfehlern führen und in der Folge den Wechselrichter veranlassen, die Anlage aus Sicherheitsgründen abzuschalten. Daher ist es wichtig, genau hinzuschauen und die Auswirkungen der Risstypen auf die Performance im Blick zu behalten.
Dr. Claudia Buerhop-Lutz forscht seit 2018 in der Abteilung Hochdurchsatzmethoden in der Photovoltaik des Helmholtz-Institutes Erlangen Nürnberg für Erneuerbare Energien (HI ERN): Projekte zur Entwicklung von vorwiegend bildgebenden Methoden, Datenanalyse sowie die Untersuchung des Einflusses von Polymeren auf die elektrische Performance gehören zum Schwerpunkt ihrer Forschungsarbeit in Solarparks. Davor verantwortete sie als Gruppenleiterin IR am Bayerischen Zentrum für Angewandte Energieforschung e. V. (ZAE Bayern) die thermographische Inspektion von PV-Modulen. Den Grundstein für ihre heutige Forschungsarbeit legte die Materialwissenschaftlerin mit ihrem Studium an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, hier promovierte sie 1994 zur Laserbearbeitung von Glas.